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FISCHERSCOPE X-RAY XAN 500 是一款便攜式 X 射線熒光（XRF）設備，專為涂層厚度測量與合金材料分析設計。當樣品無法送至儀器處時，這款設備可直接前往樣品所在地進行檢測。

雖體型小巧，但它的性能堪比實驗室中的各類 X 射線熒光儀器。其搭載的現代硅漂移探測器（SDD），能在短短幾秒內確保測量結果準確無誤，即便面對涉及多層結構與多種合金的復雜測量任務，也能可靠完成。在測量涂層厚度時，保證設備與樣品間距離恒定、光路筆直至關重要，而該設備的三點支撐設計，可實現安全穩定架設，保障涂層測量精度，測量結果還能直接在設備顯示屏上呈現。

數據后續分析方面，XAN 500 配備完整的 WinFTM® 軟件套件。基于基本參數分析的涂層厚度測量與材料分析功能，無需預先校準（即無標樣）就能精準測量；若需最高精度，也可借助德國國家認證機構（DAkkS）認證的標準樣品，快速便捷地針對特定測量任務完成設備校準。